System Pomiaru Powierzchni i Profilu OSIRIS - Pomiar Inline Jakości Powierzchni i Dokładności Wymiarowej dla Długich Produktów

OSIRIS to stacjonarny, optyczny system pomiarowy do kontroli wymiarów i jakości powierzchni produktów długich w trybie inline. Dzięki nowoczesnej technologii cięcia laserowego i wysokim częstotliwościom próbkowania, systemy OSIRIS oferują pełną rekonstrukcję 3D produktu. W wariancie OSIRIS Hot można analizować produkty długie o temperaturze do 1.100 stopni. Wyniki pomiarów są wyświetlane w czasie rzeczywistym na terminalu kontrolnym, co umożliwia wczesne działania korygujące w celu zwiększenia wydajności i jakości produktu. Dzięki funkcji inspekcji powierzchni, automatycznie wykrywane i klasyfikowane są odchylenia powierzchni produktu (wyłamania, rysy, wypukłości itp.). Dodatkowo jednocześnie generowane są przekroje profilu materiału długiego, aby sprawdzić wymiary takie jak szerokość i wysokość, różne promienie i kąty. Różne rozmiary konstrukcyjne umożliwiają pomiar dużych i małych produktów długich. Technologia: Cięcie laserowe Funkcje: Inspekcja powierzchni + Pomiar profilu Warianty: OSIRIS Hot / OSIRIS Cold