SE0S 02 to najlepsze rozwiązanie dla klientów, którzy potrzebują szybkiej analizy, wysokich specyfikacji, bezpieczeństwa oraz uczciwej dokładności wyników identyfikacji składu pierwiastków w produkcji metali przy minimalnych kosztach zakupu, prowizji i eksploatacji urządzenia.
Zastosowania:
- Przemysłowe laboratoria analityczne w zakładach metalurgicznych i maszynowych;
- Ekspresowa analiza stopów podczas topnienia w warsztatach;
- Identyfikacja gatunku stopu w magazynach;
- Instytuty badawcze i uniwersytety.
SEOS 02 identyfikuje skład stopów żelaza (wszystkie rodzaje stali i żeliwa) oraz stopów metali nieżelaznych na dowolnej podstawie (Al, Cu, Zn, Ni, Ti, Mg, Co, Pb itd.).
CCD pozwala na analizę całego zakresu podstawowych pierwiastków stosowanych w metalurgii, w tym S, P, C.
Dokładność pomiaru SEOS 02 jest zgodna z międzynarodowymi dokumentami regulacyjnymi.
Każdy spektrometr SEOS 02 przechodzi państwową procedurę weryfikacji jako przyrząd pomiarowy.
Temperatura otoczenia: 10-35 °C
Ciśnienie atmosferyczne: 84-106,7 kPa (630-800 mm Hg)
Wilgotność względna (przy T=25 °C): ≤ 80%
Zasilanie elektryczne: 220 V, (50±2) Hz
Długość, mm: ≤ 690
Szerokość, mm: ≤ 510
Wysokość, mm: ≤ 400
Waga, kg: ≤ 50
TOPOS Interferometryczne systemy pomiarowe do bezdotykowego sprawdzania płaskości precyzyjnych części po obróbce
Interferometry TOPOS działają na zas...
System Analizy Krzemowej w Niskotemperaturowym Kryogeniku Bruker Optics (CryoSAS) to dedykowany, kompleksowy system do analizy zanieczyszczeń krzemu w...
Stanowisko do obsługi dynamometru i silnika oraz do opracowywania programów.
Opracowanie programów testowych nie wymaga ekspertów w dziedzinie program...
Analiza czystości komponentów za pomocą wszechstronnej stacjonarnej SEM, powiększenie 200 000x, <10nm rozdzielczość, analiza elementarna EDX i SED jak...
dla wrażliwych komórek, dla reakcji katalizowanych i dla immobilizowanych bioprocesów. całkowicie automatycznie sterowane przez WinEr
zasada działani...
Ważne, aby uzyskać dobre pomiary, element roboczy powinien być jak najczystszy i nie powinien mieć żadnych zadziorów.
Technika pomiaru wymiarów:
Proj...
AFM zajmuje silną pozycję w badaniach naukowych, będąc rutynowym narzędziem analitycznym do charakteryzacji właściwości fizycznych z wysoką rozdzielcz...
Laserowa mikroskawarka do różnych materiałów i detali
Urządzenie spawalnicze klasy laserowej 1 z pulsującym włóknowym laserem do detali o różnych geo...
TOPOS Interferometryczne systemy pomiarowe do bezdotykowego sprawdzania płaskości precyzyjnych części po obróbce
Interferometry TOPOS działają na zas...
System Analizy Krzemowej w Niskotemperaturowym Kryogeniku Bruker Optics (CryoSAS) to dedykowany, kompleksowy system do analizy zanieczyszczeń krzemu w...
Stanowisko do obsługi dynamometru i silnika oraz do opracowywania programów.
Opracowanie programów testowych nie wymaga ekspertów w dziedzinie program...
Analiza czystości komponentów za pomocą wszechstronnej stacjonarnej SEM, powiększenie 200 000x, <10nm rozdzielczość, analiza elementarna EDX i SED jak...
dla wrażliwych komórek, dla reakcji katalizowanych i dla immobilizowanych bioprocesów. całkowicie automatycznie sterowane przez WinEr
zasada działani...
Ważne, aby uzyskać dobre pomiary, element roboczy powinien być jak najczystszy i nie powinien mieć żadnych zadziorów.
Technika pomiaru wymiarów:
Proj...
AFM zajmuje silną pozycję w badaniach naukowych, będąc rutynowym narzędziem analitycznym do charakteryzacji właściwości fizycznych z wysoką rozdzielcz...
Laserowa mikroskawarka do różnych materiałów i detali
Urządzenie spawalnicze klasy laserowej 1 z pulsującym włóknowym laserem do detali o różnych geo...