Analiza składu metali - Import eksport

Podręczny Spektrometr XRF X-MET8000, zapewnia szybkość i wydajność wymaganą nawet w najbardziej zaawansowanych aplikacjach, za pomocą optymalnego połączenia wysokiej klasy lampy rentgenowskiej i wielko-powierzchniowego detektora SDD (Large Area Silicon Drift Detector). Spektrometry z serii X-MET8000 są idealnym rozwiązaniem do analizy składu chemicznego metali i pozytywnej identyfikacji materiałów (PMI) dla zastosowań kontrolnych a także produkcyjnych. •   Linia spektrometrów X-MET8000 tworzą 3 różne modele (Smart, Optimum, Expert) •   Proste w obsłudze "wybierz punkt i strzel" •   Intuicyjny, graficzny interfejs użytkownika: wymagający minimalnego przeszkolenia operatora •    Duży 4.3", kolorowy dotykowy wyświetlacz zapewniający doskonałą widoczność wyników, nawet w pełnym słońcu, łatwa obsługa nawet w rękawiczkach •    Klasa ochrony IP54 (odpowiednik NEMA 3) IP54  (równoważny NEMA 3), dzięki czemu spektrometry X-MET mogą być używane w najtrudniejszych warunkach