Ntegra Spectra II - Systemy AFM-Raman-Nano-IR

Wysokowydajny, wszechstronny AFM Dostęp optyczny z góry, z boku i od dołu, zoptymalizowany do Raman, TERS i SNOM Elastyczny projekt optyczny umożliwiający dowolne połączenie konfiguracji wzbudzenia/zbierania Zautomatyzowane ustawienie lasera AFM, sondy i fotodiody Łatwa w użyciu zmiana długości fali lasera systemu rejestracji AFM i fotodiody Prosta i przyjazna dla użytkownika zmiana obiektywów Integracja z IR sSNOM (opcjonalnie) Od 1998 roku NTMDT z powodzeniem integruje AFM z technikami mikroskopii optycznej i spektroskopii. Obsługiwanych jest ponad 30 podstawowych i zaawansowanych trybów AFM, w tym HybriD ModeTM, co zapewnia obszerną informację o fizycznych właściwościach powierzchni próbki. Integracja AFM z konfokalną mikroskopią Ramanowską/fluorescencyjną dostarcza najszerszy zakres dodatkowych informacji o próbce. Jednocześnie mierzone mapy AFM i Raman dla dokładnie tego samego obszaru próbki dostarczają komplementarnych informacji o właściwościach fizycznych próbki (AFM) i składzie chemicznym (Raman). Ograniczona przez dyfrakcję rozdzielczość przestrzenna:<200 nm w XY, <500 nm w Z (z obiektywem immersyjnym) Wysokowydajny, niskoszumny AFM: szum Z<0.1 nm (RMS w paśmie 10‑1000 Hz) Siatka echelle z ultrawysoką dyspersją; rozdzielczość spektralna:0.007nm (< 0.1 cm‑1) Niskie liczby falowe/spektroskopia Ramanowska THz:<10 cm-1 z filtrami objętościowymi Bragga Wymienne obiektywy z kinematycznymi mocowaniami: precyzja <2 µm Podwójne skanowanie: skanowanie próbki OR skanowanie plamki lasera (do mapowania Hot Spot w TERS) Wszystkie istniejące geometrie TERS są dostępne: oświetlenie/zbieranie z dołu, z góry lub z boku